Пристрій ефекту залу

Вдосконалена платформа характеристики електричного транспорту

DX -3000 - це багатофункціональна платформа для тестування, розроблена для комплексного аналізу властивостей електричного транспорту. Він поєднує в собі ефект Холла, магніторесентність та IV характеристики в одній інтегрованій системі. Оптимізуючи вибір приладів та усунувши ручні складності електропроводки (налаштування кімнати/низькотемпературних), він впорядковує отримання даних для точності та повторюваності. Сумісний з електромагнітами або суперпровідними магнітами (конфігураційними користувачами), він підтримує розумні зразки зондів та налаштоване програмне забезпечення для швидких, автоматизованих вимірювань.

• Ефективний робочий процес: Модульні зразкові картки дозволяють швидко встановити (підтримує 2–4 зразки одночасно з додатками).
• Широкий діапазон вимірювання: Аналіз опору від 0. 1Mω до 100Gω (розширюється через модулі високої напруги/імпедансу).
• Адаптивне тестування: Параметри програмованого струму/магнітного поля для динамічного залу та оцінки опору.
• Візуалізація в режимі реального часу: Автоматизоване програмне забезпечення генерує проміжні результати, криві (IV, RT, RH) та кінцеві параметри (щільність носія, рухливість, опір листа).
• Магнітна гнучкість: Стабілізація нульового поля, довгострокова стабільність поля та швидке управління поля за допомогою інтегрованих лічильників Гаусса.
• Універсальність температури: Необов’язкові кріогенні модулі (1,6 К - 800 К) для досліджень змінного середовища.

• Напівпровідники: Sige, Ingaas, Hgcdte, SIC, Algaas тощо.
• Провідні фільми: Метали, структури TMR, прозорі оксиди.
• Підкладки з високим вмістом: Напівізолюючий GaAs, CDTE, GAN.

1. Аналіз ефектів залу:
   Виходи: опір, коефіцієнт залу, тип/концентрація носія, мобільність.
2. Профілювання магніторесанту:
   Показники: ΔR, ΔR/R%, RH -криві.
3. Динамічна характеристика:
   IV картографування при змінних температурах/полях.
   Температурний опір (RT) під фіксованими полями.

Електричні модулі: Keithley Precision Instruments (поточні джерела, нановольтметри, матриці перемикання).

Параметри магніту:

• Dx -100: 1,5T Макс (60 -мм полюс, ± 1% рівномірності).
• Dx -130: 2,5T макс (100 мм полюс).
• Dx -180: 2,7T макс (120 мм полюс).

Тепловий контроль(Необов’язково):

Рідкий азот (80–500 К), кріостати (4–325 к), компактні холодильники (45–325 к).

Розміри вибірки:

• Маленькі/зонди -картки: 12х12 мм² до 30х30м м².
• Великі картки: 50х50 мг².

Електричні межі:

• Поточний: ± 100PA - 100 мА (роздільна здатність: 100PA).
• Напруга: ± {{0}}. 1μV - 30V (роздільна здатність: 0,1 мкВ).
• Максимальна щільність носія: 1 × 10⁸ CM⁻³.

Критерії точності:

• Невизначеність поля/товщини<1%.
• Оптимальне співвідношення B-поля/товщини: 1т/мм.

• Зразок підготовки: Підтримує 4-/6- конфігурації проводів.
• Програмне забезпечення: Повна автоматизація з реєстрацією даних, пристосуванням до кривої та вилученням параметрів.
• Дотримання: Низьке споживання електроенергії (<1mV sample excitation).

Напівпровідникові НДДКР, дослідження магнітних матеріалів, перевірка пристроїв тонкого фільму та вдосконалена матеріалознавство.

(Примітка: Спеціальні конфігурації, доступні для існуючих налаштувань лабораторії або спеціалізованих вимог.)